Intel anunciou há alguns dias que os níveis elevados de voltagem são a causa raiz dos problemas de instabilidade do Raptor Lake. A empresa resolverá esse problema com uma atualização de microcódigo em meados de agosto. No entanto, a publicação alemã Igor’s Lab afirma que a Intel não compartilhou toda a história e ainda está investigando outras causas raiz da instabilidade do Raptor Lake.
De acordo com as fontes da publicação, as voltagens elevadas não são a verdadeira causa raiz—ou talvez não sejam a única causa raiz. As alegações apenas contradizem parcialmente a declaração oficial da Intel, que menciona a voltagem operacional elevada como a causa raiz dos problemas, mas afirma que o trabalho de validação está em andamento para garantir que o patch de microcódigo resolva totalmente o problema.
O relatório de Igor também destacou detalhes do comportamento da voltagem elevada que causa a instabilidade do Raptor Lake e o que exatamente a Intel está adicionando à sua atualização de microcódigo de meados de agosto. A Intel teria observado um aumento significativo na voltagem mínima operacional (Vmin) em vários núcleos em chips instáveis devolvidos por clientes. A voltagem mínima operacional elevada é supostamente causada pelas condições de “voltagem elevada, alta frequência e temperatura elevada” que a Intel observou nos chips devolvidos.
Essa voltagem mínima operacional insegura afeta o chip mesmo em condições de inatividade. A Intel observou voltagens esporádicas elevadas quando os chips Raptor Lake retomam estados de baixo consumo de energia para executar operações em segundo plano antes de entrar novamente em um estado de baixo consumo de energia.
Para resolver o problema, a atualização de microcódigo da Intel limitará os pedidos de VID acima de 1,55V para corrigir os problemas relacionados à voltagem. Essa mudança não impactará muito o desempenho. No entanto, a Intel diz que é necessária uma análise mais aprofundada para ver se a atualização de microcódigo de meados de agosto mitigará totalmente todos os problemas de instabilidade devido aos motivos acima.
Aqui está um trecho das comunicações supostamente vazadas fornecidas ao Igor’s Lab:
– A Intel observa um aumento significativo na voltagem mínima operacional (Vmin) em vários núcleos em processadores afetados devolvidos por clientes.
– Esse aumento é semelhante ao resultado de componentes submetidos a condições de voltagem e temperatura elevadas para testes de confiabilidade.
– Fatores que contribuem para esse aumento de Vmin incluem voltagem elevada, alta frequência e temperatura elevada.
– Mesmo em condições de inatividade a temperaturas relativamente baixas, voltagens esporádicas elevadas são observadas quando o processador é retomado de estados de baixo consumo de energia para atender operações em segundo plano antes de entrar novamente em um estado de baixo consumo de energia.
– Em uma voltagem suficientemente alta, esses eventos de curta duração podem se acumular ao longo do tempo, contribuindo para o aumento de Vmin.
– A análise da Intel indica a necessidade de reduzir a voltagem máxima solicitada pelo processador para reduzir ou eliminar a exposição acumulada a voltagens que podem resultar em um aumento de Vmin.
– Embora a Intel tenha confirmado que voltagens elevadas impactam o aumento de Vmin, a investigação continua para entender completamente a causa raiz e abordar outros possíveis aspectos desse problema.
––Intel—
Fonte: Tom’s Hardware